粒子量測范圍：0.3um - 10um 通道：0.3、0.5、1.0、3.0、5.0、10.0um 傳感器：雷射二極管 顯示屏幕：7 英寸 WVGA，觸控屏幕，帶有縮放功能 數(shù)據(jù)輸出：USB 端口、以太網(wǎng)絡(luò)、WiFi (選配) 語言：英文、中文、日文、韓文 尺寸和重量：寬12英寸X 深12英寸X 高9英寸，26.5 磅 輸入電源：100-240 VAC，50/60 赫茲 電池：2顆 鋰電池，可熱插入

QIII SM表面微粒子計(jì)數(shù)器 表面潔凈分析儀

規(guī)格說明
粒子量測范圍：0.3um - 10um
通道：0.3、0.5、1.0、3.0、5.0、10.0um
傳感器：雷射二極管
顯示屏幕：7 英寸 WVGA，觸控屏幕，帶有縮放功能
數(shù)據(jù)輸出：USB 端口、以太網(wǎng)絡(luò)、WiFi (選配)
語言：英文、中文、日文、韓文
尺寸和重量：寬12英寸X 深12英寸X 高9英寸，26.5 磅
輸入電源：100-240 VAC，50/60 赫茲
電池：2顆 鋰電池，可熱插入

美國Pentagon Technologies ST表面塵埃粒子理化分析儀是當(dāng)今行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的測量工具及過程控制表面顆粒污染解決方案專家.
 
更加有效管控表面粒子在0.1 um范圍成為了至關(guān)重要的產(chǎn)量良率及過程控制測量的重要指標(biāo)。
Pentagon Technologies針對從submicron至deep submicron (0.18, 0.13..) 的Production機(jī)臺, 建立了特別的PM procedure可降低50% Test Wafer的消耗量及增加OEF(Overall Equipment Effectiveness), 其應(yīng)用于各種Thin Film( PVD, CVD..), Etching and Diffusion Equipments. 以及工作臺面積臺表面潔凈度等的驗(yàn)證.
Pentagon Technologies 亦針對Fab整體的contamination可提供詳細(xì)的偵測及評估進(jìn)而提高OFE (Overall Fab Effectiveness), 這可提供QA人員非常advanced的幫助。
 
適合使用單位:
•適合客戶群: 半導(dǎo)體黃光, 蝕刻制程, 零件清洗商,設(shè)備清潔維護(hù), 光電廠, 玻璃基板廠等
•適合單位 : PVD, CVD, Photo, Ion Plant, YE, QA, QC ,  Microntation , Etch, Diffusion.

• 表面
• 英寸
• pentagon
• 適合
• technologies
• 粒子
• fab
• qa
• pvd